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查詢結果： 3 筆篩選 : JCR 主題 PHYSICS, APPLIED

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1. IEEE transactions on device and materials reliability.

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資料類型: 電子期刊
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平台: IEEE Xplore All Journals (Available from 2001 volume: 1 issue: 1.)

問題通報 JCR IF

2. Microelectronics and reliability

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資料類型: 電子期刊
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平台: Elsevier SD Journals - AutoHoldings (Available from 1962 volume: 1 issue: 1.)
Elsevier SDOL (ScienceDirect Online) (Available from 1995.)
Elsevier SDOL Backfile Complete (Available from 1962 volume: 1 issue: 1 until 1994.)

問題通報 JCR IF

3. Vacuum

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資料類型: 電子期刊
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平台: Elsevier SD Journals - AutoHoldings (Available from 1951/01/01 volume: 1 issue: 1.)
Elsevier SDOL (ScienceDirect Online) (Available from 1995.)
Elsevier SDOL Backfile Complete (Available from 1951 until 1994.)

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